Комплект учебного оборудования предназначен для проведения лабораторных работ, работ физического практикума при изучении раздела «Квантовые явления» школьного курса физики
Конструкция защищена патентом РФ на изобретение № 2291495Назначение
Комплект позволяет выполнять не менее 5 лабораторных работ в соответствии с требованиями учебных программ школьного курса физики, в том числе: наблюдение сплошного и линейчатого спектров излучения, измерение радиационного фона, определение постоянной Планка, исследование устройств полупроводникового фотоэлемента, изучение взаимодействия частиц и ядерных реакций по фотографиям треков.
Комплект поставки
№п/п | Наименование | Кол-во |
1. | Пенал с крышкой | 1 |
2. | Индикатор радиоактивности | 1 |
3. | Фотография треков заряженных частиц | 3 |
4. | Лампа накаливания на подставке | 1 |
5. | Неоновая лампа на подставке | 1 |
6. | Полупроводниковый фотоэлемент на подставке | 1 |
7. | Светодиод на подставке | 1 |
8. | Экран | 1 |
9. | Рейка | 1 |
10. | Опора | 1 |
11. | Провод соединительный | 6 |
12. | Рамка с дифракционными решетками | 1 |
Для работы комплекта необходим источник питания:
Аккумуляторный источник питания АИП
Необходимость включения в состав лабораторного комплекта дополнительного оборудования оговаривается при заказе.
Преимущества:
- возможность использования при надомном обучении
- не содержит деталей и узлов с ограниченным ресурсом работы
- не требует затемнения помещения при проведении опытов
Методическое обеспечение (не входит в базовую комплектацию):
Методики использования лабораторного комплекта в учебном процессе представлены в методических рекомендациях и электронном пособии на СD.Оказываем содействие в подготовке технических требований для тендерной документации.
Печатное методическое пособие:
Электронное методическое пособие на CD:
Перечень лабораторных работ, выполняемых с помощью лабораторного комплекта
1. Наблюдение сплошного и линейчатого спектров излучения
2. Измерение радиационного фона
3. Изучение взаимодействия частиц и ядерных реакций по фотографиям треков
4. Исследование устройства полупроводникового фотоэлемента
5. Оценка значений постоянной Планка